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场发射电镜SEM4000正式上线使用
场发射电镜SEM4000
近日,国仪量子场发射扫描电镜(FESEM)SEM4000正式交付梧州三和新材料科技有限公司-新能源材料工程技术研究中心并投入使用。同时,该设备也进入三和新材科技共享设备序列,企业外人员可付费使用。
SEM4000可提供形貌观测服务:(可实现金属、陶瓷、半导体、聚合物、复合材料等几乎所有固体材料的表面形貌、断口形貌、界面形貌等显微结构分析,搭载了X射线能谱仪(EDS),可以在观察微区形貌的同时,分析材料的微区化学成分和结构,主要用途包括:
(1)形貌分析:观察材料物质的表面微观形貌;
(2)结构分析:观察样品的元素分布、颗粒尺寸等结构信息;
(3)断口分析:通过分析断口结构确定材料的断裂性质;
(4)粒度分析:确定颗粒样品的粒径范围及分布;
(5)元素含量分析:接入能谱(EDS)探测器后,能对样品中指定微区范围内4Be-92U元素进行定性分析以及初步定量分析。
送样要求:
(1)待检测样品为固体;
(2)送样最大尺寸为直径50mm,最大高度30mm;
(3)样品不能有磁性;
(4)样品导电性良好,或样品可以做喷金处理。
测试联系人
黄先生:0774-5819736
SEM4000性能特点
SEM4000是一款分析型热场发射扫描电子显微镜,配备了高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪。三级磁透镜设计,束流最大可达200 nA,且连续可调,在配备的EDS应用上具有明显优势。支持低真空模式,可直接观察导电性弱或不导电样品。标配的光学导航模式,以及直观的操作界面,可以迅速高效地帮助您完成分析。
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